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TRIO-TECH新一代HAST高溫高壓加速老化測試系統(tǒng)

更新時間:2024-08-23      點擊次數(shù):73
HAST高溫高壓加速老化測試系統(tǒng)
HAST System – Highly Accelerated Stress Testing


具有和增強功能的大測試容量
TRIO-TECH高加速壓力測試(HAST)系統(tǒng)
TRIO-TECH HIGHLY ACCELERATED STRESS TEST(HAST) SYSTEM


       HAST-1000X、HAST-6000X和HAST-9000X加壓濕度測試系統(tǒng)為塑料封裝集成電路和其他微電子設(shè)備提供了一種快速、經(jīng)濟高效的替代傳統(tǒng)濕熱85/85溫度和濕度測試的方法。半導(dǎo)體行業(yè)的技術(shù)計算出,HAST測試比傳統(tǒng)測試方法快10-40倍。這種高度加速的測試可以更快地對日益復(fù)雜的微電子產(chǎn)品進行表征、評估和鑒定。

Trio Tech是HAST測試的技術(shù)和市場,擁有技術(shù)的HAST系統(tǒng),提供更方便和安全的交鑰匙解決方案,包括系統(tǒng)、機架、培訓(xùn)和測試服務(wù),在擁有600多個安裝。

快速測試HAST系統(tǒng)滿足并超過JEDEC標準A110的測試要求。(高加速溫度和濕度應(yīng)力測試)。

TRIO-TECH具有系統(tǒng)功能:

可在所有快速測試系統(tǒng)上執(zhí)行

測試容量范圍為64–15000升(可根據(jù)要求提供其他尺寸)

具有的圓周加熱系統(tǒng),可提供均勻的溫度和濕度控制,并消除在被測器件上形成的冷凝。

操作員友好型按鈕門鎖系統(tǒng)

操作人員友好的觸摸屏操作
程序:手動測試模式和實時趨勢圖

Trio Tech Hast系統(tǒng)使用觸摸屏計算機系統(tǒng),可簡單控制所有腔室參數(shù)和電源。有兩種編程模式可用。

廣泛的應(yīng)用和實驗

觸發(fā)外部電源打開/關(guān)閉

允許外部電源編程/觸發(fā)

減少系統(tǒng)的系統(tǒng)斜坡下降時間,從而防止對測試設(shè)備的“烘烤效應(yīng)"。

清除系統(tǒng)中的空氣,以防止在上升過程中蒸汽積聚在測試設(shè)備上。

規(guī)格:
溫度范圍:105°C至150°C。
濕度范圍:60%至99%R.H
測試容量:61–657升(可根據(jù)要求提供其他測試容量)
標準系統(tǒng)(容器尺寸)HAST 1000X(直徑x深度)-36cm x 60cm(約61升)HAST 6000X(直徑×深度)-60cm x 60ccm(約169升)
HAST 9000X(直徑x深度)–81.2cm x 127cm(約657升)
(可根據(jù)要求提供其他測試能力)


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